抗干扰异频介质损耗测试仪简介 ----Product introduction
UAJS-C全自动介损测试仪又称全自动抗干扰介损测试仪或介质损耗测试仪，抗干扰介损测试仪是发电厂、变电站等现场全自动测量各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度测试仪,该全自动抗干扰介损测试仪还包括介损测试仪,抗干扰介损测试仪,异频介质损耗测试仪,全自动介质损耗测试仪
UAJS-C全自动抗干扰介损测试仪是武汉微安电力产品研发部参照行业标准以及电力试验规程规范研发生产的高精度介质损耗测试仪, UAJS-C全自动抗干扰介损测试仪适用于发电厂、变电，互感器制造厂家以及电力检修部门，全自动测量各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度测试仪，由于采用了变频技术，滤掉了工频现场产生的干扰，保证该测试仪在强电场干扰下准确测量测试仪采用中文菜单操作界面，微机全自动完成全整个过程的测量。
UAJS-C全自动抗干扰介损测试仪同样适用于车间、试验室、科研单位测量高压电器设备的tgδ及电容量，可用正、反接线方法测量被试品不接地或直接接地的高压电器设备，UAJS-C全自动抗干扰介损测试仪还可以测量电容式电压互感器的tgδ及主电容C1、C2电容量。UAJS-C全自动抗干扰介损测试仪机构部分采用了高压升压变压器，完善的过零合闸、防雷击等安全保护措施，试验过程中输出0.5KV～10kV不同等级的高压，使用过程中操作简单、安全。
产品选型 ----Product selection
| 名称 | UAJS-C系列抗干扰异频介质损耗测试仪 | |||||||||
| 说明 | 表格中"●"代表为有该功能 | |||||||||
| 型号/功能(A) | 正接法 | 反接法 | CVT自激法 | C1/C2同测 | CVT变比 | 低压屏蔽测试 | 外接标准 | 外接高压 | 高压短路保护 | CVT过压保护 |
| UAJS-C20 | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| UAJS-C30(推荐) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
主要特点 ----Main features
1、具备CVT的自激法测试，一次接线，同时测量C1、C2的电容和tgδ
2、具有外施电压和外加CN的测量功能
3、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量
4、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据
5、接地保护功能，当仪器不接地线或接地不良时，仪器不进入正常程序，不输出高压
6、过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏
7、内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线
8、仪器采用大屏幕液晶显示器，测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作
抗干扰异频介质损耗测试仪参数 ----Technical parameter
| 型号 | UAJS-C | |
| 名称 | 抗干扰介损测试仪 | |
| 高压输出 | 0.5～10kV | 每一档增加500V，共有十档，容量：1500VA |
| 准 确 度 | tgδ | ±(读数*1.0%+0.04%) |
| Cx | ±(读数*1.0%+5PF) | |
| 分 辨 率 | tgδ | 0.01% |
| Cx | 1pF | |
| 测量范围 | 0.1%＜tgδ＜50% | |
| 3PF＜Cx＜60000PF | ||
| 10KV时，Cx≤30000PF | ||
| 5KV时，Cx≤60000PF | ||
| 电 源 | AC220V士10%，50士1Hz | |
| 谐波适应 | ≤3% | |
| 使用条件 | -15℃～50℃ | |
| 相对湿度 | ＜80% | |
| 尺寸 | 460×335×340mm3 | |
| 重量 | 30kg | |
抗干扰异频介质损耗测试仪图片 ----Picture display
抗干扰异频介质损耗测试仪附件配件 --------Accessories
本产品UAJS-C抗干扰介损测试仪详细清单请以说明书或代销合同为准
| 异频介质损耗测试仪 | 1台 | 高压HVx测试电缆（红色） | 1根 |
| 专用Cx测试电缆（黑色） | 1根 | 低压输出测试电缆（CVT用，双芯） | 1根 |
| 电源线 | 1根 | 保险管，打印纸 | 2份 |
| 检验报告 | 1本 | 说明书 | 1本 |
| 合格证 | 1张 |
抗干扰异频介质损耗测试仪技术应用 --------Technology application
《GB50150-2016》中变压器绕组连同套管tanδ及电容量标准
• 《DL/T 596-1996电力设备预防性试验规程》也是如下要求
• 变压器电压等级≥35KV且容量≥10000kVA以上时应测量介质损耗因素(tanδ)
• 被测绕组的tanδ应≤出厂试验值的130%,当＞130%时,应结合其他试验结果分析判断
• 现场测量温度与出厂试验温度不符合时，应换算到同一温度比较(参考标准附录C表)
• 变压器本体电容量与出厂值比较的允许偏差为±3%
《DLT596-2005》中变压器/电抗器绕组、电容型套管tanδ标准
• 绕组在在20℃时、35kV及以下≤1.5%、66~220kV≤0.8%、330~500kV≤0.6%
• 绕组tanδ与历年数值的比较不应该有显著变化(一般不大于30%)
• 电容型套管末屏对地绝缘电阻小于100MΩ时，其末屏对地tanδ应≤2%
• 电容型套管的电容值与出厂值或上一次试验的差别超过±5%时，应查明原因
• 电容型套管的允许的介质损耗因素(tanδ)请参考右表
异频介质损耗测试仪测试结果分析及含义
• tgx： 被试品的介质损耗值、Tanδ = tg (δ )
• Cx ： 被试品的电容容量
• PF ： 被试品的功率因素、PF = cos (θ)
• Ιx ： 被试品的测试电流
• Pr ： 容性设备的有功功率、Pr =Ux * Ιx * cos (θ)
• HV： 被试品的测试电压
• f ： 被试品的测试频率
